367 résultats
20122090202120806916Not Available 2012. Soft Cover. Fine. Volume: 1 Not Available paperback
200691521Springer, Berlin, Heidelberg, New York 2006. 203 S. - 249 S. mit zahlreichen Abbildungen, (203 pp. and 249 pp with a lot of figures), Groß 8°, Original-Pappbände (Hardcover), Bibliotheks-Exemplare (Privatbibliothek) mit Rückenschild, Stempel und Barcode auf Vorsatz und Titel, Einbände in selbstklebende transparente Schutzfolie eingeschlagen, insgesamt gute und innen saubere Exemplare, (library copies in good condition),
20132091502133901327Nikkan Kogyo Shimbun 2013. Soft Cover. Fine. Volume: 1 Nikkan Kogyo Shimbun paperback
200711953München, Prestel, 2007. 4° (30-35 cm). 379 S. OLeinwand mit OUmschlag
200191480Wiley-Interscience, New York 2001. 515 Seiten mit Abbildungen, Groß 8°, Original-Pappband (Hardcover), Bibliotheks-Exemplar (Privatbibliothek) mit Rückenschild, Stempel und Barcode auf Vorsatz und Titel, Einband in selbstklebende transparente Schutzfolie eingeschlagen, insgesamt gutes und innen sauberes Exemplar,
2023Astral-9788176221276Biotech 2023. Hardcover. English Biotech hardcover
2023Bio-Green-97881762212762023. Hardcover. New. hardcover
2023Bio-Green-97881762212762023. Hardcover. New. hardcover
2023Astral-9788176221276Biotech 2023. Hardcover. English Biotech hardcover
2006Q-1418041092Cengage Learning 2006-06-20. Spiral-bound. New. New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! Cengage Learning unknown
200358160BBDenges, Editions du Verseau., 2003. 24,5x28,5 cm. 159 S. Mit 96 s/w. Fotografien. Originalleinwand mit Schutzumschlag.
200591514Wiley-Interscience, New York 2005. 634 Seiten mit zahlreichen Abbildungen, Groß 8°, Original-Pappband (Hardcover), Bibliotheks-Exemplar (Privatbibliothek) mit Rückenschild, Stempel und Barcode auf Vorsatz und Titel, Einband in selbstklebende transparente Schutzfolie eingeschlagen, insgesamt gutes und innen sauberes Exemplar, (library copy in good condition),
200391523Springer, Berlin, Heidelberg, New York 2003. 202 S. - 248 S. mit zahlreichen Abbildungen, (202 pp. and 248 pp. with a lot of figures), Groß 8°, Original-Pappbände (Hardcover), Bibliotheks-Exemplare (Privatbibliothek) mit Rückenschild, Stempel und Barcode auf Vorsatz und Titel, Einbände in selbstklebende transparente Schutzfolie eingeschlagen, insgesamt gute und innen saubere Exemplare, (library copies in good condition),
2019__3110597845De Gruyter 2019. Hardcover. New. 230 pages. 9.45x6.69x0.63 inches. De Gruyter hardcover
200691302Springer, Berlin, Heidelberg, New York 2006. 289 S. mit zahlreichen Abbildungen, (289 pp. with a lot of figures), Groß 8°, Original-Pappband (Hardcover), Bibliotheks-Exemplar (Privatbibliothek) mit Rückenschild, Stempel und Barcode auf Titel, Einband in selbstklebende transparente Schutzfolie eingeschlagen, insgesamt gutes und innen sauberes Exemplar, (library copy in good condition),
200391661MRS (Materials Research Society), Warrendale, Pennsylvania 2003. 296 S. mit zahlreichen Abbildungen, Groß 8°, Original-Kunstleder (Hardcover), gutes und innen sauberes Exemplar,
2019__3110597772De Gruyter 2019. Hardcover. New. 230 pages. 9.45x6.69x0.71 inches. De Gruyter hardcover
2019__3110596067De Gruyter 2019. Hardcover. New. 230 pages. 9.45x6.69x0.63 inches. De Gruyter hardcover
2006Q-0883173263Stoeger Publishing Company 2006 Edition: 98 576 pages 2006-01-01. Paperback. New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! Stoeger Publishing Company (2006), Edition: 98, 576 pages paperback
2018014085Commonwealth of Australia 2018. 1st Edition . Soft cover. Fine. 8vo - over 7¾ - 9¾" tall. 3 volume set <br/> <br/> Commonwealth of Australia] paperback
2002BN16585Oldenbourg Wissenschaftsverlag 2002. 2002. Hardcover. Dieses Standardwerk vermittelt das wesentliche Grundwissen zu den Anwendungsgebieten praxisnahe Hilfestellung bei Problemen des Enwurfs von Meßanlagen sowie der Durchführung und Auswertung von Messungen. Autor: Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer ist Leiter des Lehrstuhls für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement am WZL Werkzeugmaschinenlabor der RWTH Aachen. Inhalt: 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 Messtechnik Fertigungsmesstechnik Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau Handbuch der industriellen Meßtechnik Gebundene Ausgabe Prof. Paul Profos ETH Zürich Maschinenbau leitender Forschungs- und Entwicklungsingenieur Industrie Institut für Mess- und Regeltechnik an der ETH Autor Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer Autor Leiter Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Enwurf von Meßanlagen Durchführung und Auswertung von Messungen Handbuch der industriellen Messtechnik Messen Technik Zusatzinfo 1005 Abb. 135 Tab. Sprache deutsch Gewicht 2206 g Einbandart gebunden Messen Technik Handbuch Lehrbuch Messtechnik Handbuch Lehrbuch ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 <br/><br/>Fertigungsmesstechnik Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Messtechnik Fertigungsmesstechniker Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 Dieses Standardwerk vermittelt das wesentliche Grundwissen zu den Anwendungsgebieten praxisnahe Hilfestellung bei Problemen des Enwurfs von Meßanlagen sowie der Durchführung und Auswertung von Messungen. Autor: Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer ist Leiter des Lehrstuhls für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement am WZL Werkzeugmaschinenlabor der RWTH Aachen. Inhalt: 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 Messtechnik Fertigungsmesstechnik Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau Handbuch der industriellen Meßtechnik Gebundene Ausgabe Prof. Paul Profos ETH Zürich Maschinenbau leitender Forschungs- und Entwicklungsingenieur Industrie Institut für Mess- und Regeltechnik an der ETH Autor Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer Autor Leiter Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Enwurf von Meßanlagen Durchführung und Auswertung von Messungen Handbuch der industriellen Messtechnik Messen Technik Zusatzinfo 1005 Abb. 135 Tab. Sprache deutsch Gewicht 2206 g Einbandart gebunden Messen Technik Handbuch Lehrbuch Messtechnik Handbuch Lehrbuch ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 Oldenbourg Wissenschaftsverlag hardcover
2011DADAX3642845649Springer 2011-12-22. Softcover reprint of the original 1st ed. 1992. paperback. New. 5.24x0.45x8.07. Buy with confidence. Excellent Customer Service & Return policy. Springer paperback
2013SONG0826912796American Technical Publishers 2013-02-26. 1. hardcover. Used: Good. 8.38x0.60x10.88. Buy with confidence. Excellent Customer Service & Return policy. American Technical Publishers hardcover
20169781681193564-2025Bloomsbury USA 2016. Hardcover. New/New. <p><strong>Author:</strong> 343 Industries</p><p><strong>Publisher:</strong> Bloomsbury USA</p><p><strong>Binding:</strong> Hardcover</p><p><strong>ISBN:</strong> 9781681193564</p><p><strong>Release Date:</strong> 2016</p><p><strong>Number Of Pages:</strong> 208</p><p><strong>Details:</strong> A must-have for any Halo fan this official guide is the most comprehensive book ever written about the video game franchise created by the game’s developers.This official comprehensive authoritative guide to the Halo universe written in collaboration with 343 Industries the developers of the "Halo" franchise marks the first time that a book incorporates the entirety of the "Halo" canon including the games books comics live-action and animated entertainment and more.The book also includes over 50 specially commissioned full-color paintings showcasing vehicles artificial intelligence weapons ships and never-before-seen aspects of Halo environments. The amazing illustrations come from a variety of renowned illustrators including Jean-Sébastien Rossbach Leonid Kozienko Benjamin Carré Isaac Hannaford and 343’s internal art team too.For the first time ever the timeline of the Halo universe is available in one place charting humanity’s battles against alien forces of the Covenant Forerunners and the Flood--making this book an absolute must-have for Halo fans.</p> Bloomsbury USA hardcover
201012572ABEssen, Verlag Klartext, (2010). 4° (29,5 x 23 cm). 326 (1) Seiten. Mit zahlr. teils farbigen und ganzseitigen Abbildungen. Farbig illustr. Orig.-Pappband., 12572ab|12572ab 2 Einband minimal berieben. Schönes Exemplar.