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20142092902138302806brain center 2014. Soft Cover. Fine. Number of pages: 690p Size: 18cm brain center paperback
19352091502135417064Research Division Industry Department Osaka City Hall 1935. Soft Cover. Fine. Number of books: 1 Research Division, Industry Department, Osaka City Hall paperback
1390427218.Gpaperback. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book. paperback
026000121X.Ghardcover. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book. hardcover
1528335856.Gpaperback. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book. paperback
1922ZB330883Berlin: Karl Siegismund 1922. large ocatvo 39 pp library markings self wrappers chipped at margins extraction roughness at spine later side stapling good only. - If you are reading this this item is actually physically in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties taxes or fees required by recipient's country. Berlin: Karl Siegismund, unknown
1985C14461New York 1985. First Edition. Wraps. Very good plus. . 8vo. pp 64. Large format paperback. Illustrated throughout. paperback
19861766941257RCBS 1986. Hardcover. Good. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More Spend Less.Shelf and handling wear to cover and binding with general signs of previous use. CLEAN COVER AND CONTENT PAGES. See photos for more information. Secure packaging for safe delivery.Dust jacket quality is not guaranteed. RCBS hardcover
1986TA260307007X19RCBS 1986. hardcover. Good. 8x5x0. B/w Illustrations. Hardback--foxing on outer page edge--otherwise excellent condition--no dust cover RCBS hardcover
1986T3-202FRCBS 1986-01-01. Hardcover. New. RCBS hardcover
1329515 Holland Street Kensington W London. 1 August 1862. 4pp. 12mo. Bifolium with mourning border. In fair condition on lightly aged and worn paper. He begins: 'My dear Mrs. Roper - I have been rather long in fulfilling my promise to write - but I must lay all the blame on this most attractive International from which I can hardly tear myself away! My journey was a very pleasant one on Tuesday with agreeable fellow-passengers there was another Bouquet besides mine in the carriage - but tell dear Annie it would bear no comparison with mine! . Ah I do so long for you all to see this Exhibition - it is so delightful - tho' you must not expect to see the Building anything like the last - but it is very beautiful nevertheless - and so nicely ventilated that notwithstanding the brilliant sunshine and the crowds of people we have not found it too hot'. He explains that his party had 'intended to devote this day 1/2 crown day to the picture galleries as it is useless to attempt them on shilling days when they are so thronged but my friend who accompanies me is engaged so that we must put it off till tomorrow which is also a 1/2 crown day'. He explains that 'the first four in the week are shilling days' and that the following Wednesday 'there will be an addition of 3000 people from the Dockyards at Woolwich when the Queen is going to treat to a sight of it.' They have found the refreshments 'very nice and very moderate' but 'took care to have ours early 12.30! before the great rush of hungry people!' She will be 'enchanted with the sculpture - the tinted Venus is very beautiful - but I think I must give the preference to the pure white marble - the "Cleopatra" by Storey is very grand. He concludes by stating that he has 'not seen anything of Miss Toller yet' asking her to make sure that a plant 'gets watered' and sending 'a good kiss to dear Edwin'. 15 Holland Street, Kensington, W [London]. 1 August [1862.] unknown
A803981X02O4UEngland: Raleigh Industries . Paperback. Very Good. Stapled paper wraps 9"/7 14 p. Slight fraying to the spine but fully intact and sound. Covers are clean and images are vivid. Inside cover is slightly foxed around the edges. Pages are glossy. Full-color catalogue of Raleigh bikes and products. Separately includes an advertisement for "Protecto bike cover" and a 39 p 5.5"/4 Cycle Maintenance Handbook from Raleigh Industries. Pamphlets Raleigh Industries paperback
63-0321New York: Cinemation Industries 1972. 6 Glossy Black & White Photographs 8 x 10 inches Very Good. New York: Cinemation Industries, 1972. unknown
43893HardCover . <br><b>🔴</b> Condition - Good<b>🔴</b><br>Australian buyers can combine up to 5Kg of Books for the same postage charge.<br><b>🟢</b> This Book weighs 830 Grams.<b>🟢</b><br> INTERNATIONAL POSTAGE ON THIS ITEM WILL REQUIRE AN ADDITIONAL CHARGE weight is over 500 grams hardcover
1397265981.Ghardcover. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book. hardcover
1951158906Montreal 1951. Pamphlet. Good. 22 cm flyer folds out to four two-sided panels. 6 pen and ink sketches of forests by Franklin Arbuckle Charles Fraser Comfort A. J. Casson A. Y. Jackon Thoreau MacDonad and Albert Edward Cloutier. Title page also by MacDonald. Slight discolouration to edges. Spots on rear panel. <br/><br/>1950s commissioned project by the Canadian Pulp and Paper Association to highlight different aspects of Canada's forest landscapes and their industrial use. unknown
2023x-9819951291Springer Nature 2023. Hardcover. New. 239 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. Springer Nature hardcover
2023x-9811993106Springer Nature 2023. Hardcover. New. 222 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. Springer Nature hardcover
2023x-9819953855Springer Nature 2023. Hardcover. New. 234 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. Springer Nature hardcover
2023x-981199322XSpringer Nature 2023. Hardcover. New. 230 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. Springer Nature hardcover
19942090502113702472Not Available 1994. Soft Cover. Fine. The book is in fine condition. Not Available paperback
2002BN16585Oldenbourg Wissenschaftsverlag 2002. 2002. Hardcover. Dieses Standardwerk vermittelt das wesentliche Grundwissen zu den Anwendungsgebieten praxisnahe Hilfestellung bei Problemen des Enwurfs von Meßanlagen sowie der Durchführung und Auswertung von Messungen. Autor: Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer ist Leiter des Lehrstuhls für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement am WZL Werkzeugmaschinenlabor der RWTH Aachen. Inhalt: 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 Messtechnik Fertigungsmesstechnik Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau Handbuch der industriellen Meßtechnik Gebundene Ausgabe Prof. Paul Profos ETH Zürich Maschinenbau leitender Forschungs- und Entwicklungsingenieur Industrie Institut für Mess- und Regeltechnik an der ETH Autor Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer Autor Leiter Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Enwurf von Meßanlagen Durchführung und Auswertung von Messungen Handbuch der industriellen Messtechnik Messen Technik Zusatzinfo 1005 Abb. 135 Tab. Sprache deutsch Gewicht 2206 g Einbandart gebunden Messen Technik Handbuch Lehrbuch Messtechnik Handbuch Lehrbuch ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 <br/><br/>Fertigungsmesstechnik Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Messtechnik Fertigungsmesstechniker Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 Dieses Standardwerk vermittelt das wesentliche Grundwissen zu den Anwendungsgebieten praxisnahe Hilfestellung bei Problemen des Enwurfs von Meßanlagen sowie der Durchführung und Auswertung von Messungen. Autor: Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer ist Leiter des Lehrstuhls für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement am WZL Werkzeugmaschinenlabor der RWTH Aachen. Inhalt: 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 1;Vorwort zur 6. Auflage;52;Vorwort zur 5. Auflage;53;Inhalt;114;Autorenverzeichnis;75;A. Theoretische Grundlagen;235.1;1. Grundlegende Begriffe und Definitionen;255.1.1;1.1 Wesen des Messens; Fundamental-Voraussetzungen;255.1.2;1.2 Normale und deren Einheiten;255.1.3;1.3 Idealisiertes Blockschema; allgemeine Begriffe;285.1.4;1.4 Meßverfahren;305.1.5;1.4.1 Direkte und indirekte Meßverfahren;305.1.6;1.4.2 Analoge und digitale Verfahren;315.1.7;1.4.3 Zeitlich kontinuierliche und diskontinuierliche Verfahren;325.1.8;1.4.4 Ausschlags- und Kompensationsverfahren;335.2;2. Meßfehler und Fehlerursachen;365.2.1;2.1 Repräsentativität Repräsentativitätsfehler;365.2.2;2.2 AUgemeines Blockschema des fehlerbehafteten Meßsystems;365.2.3;2.2.1 Fehler Korrektion;375.2.4;2.2.2 Rückwirkung des Meßvorganges auf die Meßgröße: Bürde;385.2.5;2.2.3 Superponierende äußere Störeinflüsse;385.2.6;2.2.4 Deformierende äußere Störeinflüsse;385.2.7;2.2.5 Innere Störeinflüsse;395.2.8;2.3 Fehler im Zusammenhang mit dem Meßvorgang;395.2.9;2.3.1 Einfluß der Einsatzbedingungen der Meßeinrichtung;395.2.10;2.3.2 Systematische und zufällige Fehler;395.2.11;2.3.3 Statische und dynamische Fehler;415.2.12;2.4 Fehler im Zusammenhang mit der Auswertung von Meßwerten;415.2.13;2.4.1 Quantisierung der Meßwerte Ablesefehler;415.2.14;2.4.2 Zeitliche Diskretisierung durch die Auswertung;415.2.15;2.4.3 Fehler bedingt durch die Auswertehypothesen;425.2.16;2.4.4 Fehlerfortpflanzung durch die Auswertung;435.2.17;2.5 Fehlercharakteristiken von Meßgeräten;435.2.18;2.5.1 Nullpunktsunempfindlichkeit Ansprechwert Anlaufwert;435.2.19;2.5.2 Umkehrspanne Hysterese elastische Nachwirkung;435.2.20;2.5.4 Nullpunktsstabilität;455.2.21;2.5.5 Meßunsicherheit Fehlergrenzen;455.2.22;2.5.6 Linearität Toleranzbänder;455.3;3. Statische Meßfehler;485.3.1;3.1 Fehlerarten;485.3.2;3.2 Fehlererfassung;495.3.3;3.2.1 Zufällige Fehler der Einzelmessung;495.3.4;3.2.2 Zufällige Fehler von Mittelwerten;545.3.5;3.2.3 Systematische Fehler: Eichung;565.3.6;3.3 Fehlerfortpflanzung';575.3.7;3.3.1 Systematische Fehler;575.3.8;3.3.2 Zufällige Fehler;575.3.9;3.3.3 Fehlergrenzen;585.3.10;3.4 Auswerteverfahren im Zusammenhang mit statistischen Fehlern;595.3.11;3.4.2 Ausreißer;615.3.12;3.4.3 Unterschiede von Mittelwerten;625.3.13;3.4.5 Lineare Korrelation;675.3.14;3.5 Möglichkeiten der automatischen Fehlerkorrektur;705.3.15;3.5.1 Prinzip der Störgrößenabschirmung;705.3.16;3.5.2 Prinzip der Fehlerkompensation;705.4;4. Dynamische Meßfehler;745.4.1;4.1 Messen als Signalübertragungsprozeß;745.4.2;4.2 Signale und ihre mathematische Beschreibung;745.4.3;4.2.1 Klassierung von Signalen;745.4.4;4.2.2 Beschreibung deterministischer Signale im Zeitbereich;765.4.5;4.2.3 Beschreibung stochastischer Signale im Zeitbereich;775.4.6;4.2.4 Beschreibung periodischer Signale im Frequenzbereich;815.4.7;4.2.5 Beschreibung aperiodischer Signale im Frequenzbereich;835.4.8;4.2.6 Beschreibung stochastischer Signale im Frequenzbereich;865.4.9;4.2.7 Beschreibung von Signalen durch Impulsreihen;875.4.10;4.3.1 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Differentialgleichung;905.4.11;4.3.2 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Antwortfunktionen;915.4.12;4.3.3 Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch die Übertragungsfunktion;935.4.13;bzw. den Frequenzgang;935.4.14;4.3.4 Zusammenhang der Beschreibungsmittel des Übertragungsverhaltens;975.4.15;4.4 Dynamische Eigenschaften fundamentaler Meßsysteme;995.4.16;4.4.1 Meßsystem 1. Ordnung;995.4.17;4.4.3 Meßsystem mit Totzeit;1085.4.18;4.5 Dynamische Meßfehler;1095.4.19;4.5.1 Definition des dynamischen Meßfehlers;1095.4.20;4.5.2 Berechnung des dynamischen Meßfehlers;1115.4.21;4.5.3 Dynamische Kenngrößen von Meßsystemen;1145.4.22;4.6 Dynamische Störwirkungen;1175.4.23;4.6 Messtechnik Fertigungsmesstechnik Messen Messungen Messanlagen Werkzeugmaschinen Technik Maschinenbau Handbuch der industriellen Meßtechnik Gebundene Ausgabe Prof. Paul Profos ETH Zürich Maschinenbau leitender Forschungs- und Entwicklungsingenieur Industrie Institut für Mess- und Regeltechnik an der ETH Autor Prof. Dr.-Ing Tilo Pfeifer Autor Leiter Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement WZL Werkzeugmaschinenlabor RWTH Aachen Enwurf von Meßanlagen Durchführung und Auswertung von Messungen Handbuch der industriellen Messtechnik Messen Technik Zusatzinfo 1005 Abb. 135 Tab. Sprache deutsch Gewicht 2206 g Einbandart gebunden Messen Technik Handbuch Lehrbuch Messtechnik Handbuch Lehrbuch ISBN-10 3-486-22592-8 / 3486225928 ISBN-13 978-3-486-22592-1 / 9783486225921 Oldenbourg Wissenschaftsverlag hardcover
0883626527.Gspiral_bound. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book. unknown
19822111902160201271Tottori prefecture 1982. Soft Cover. Fine. Volume: 18 volumes Tottori prefecture paperback
19-7791New York: PPG Industries Inc 1971. Folio. Single page printed both sides. Very Good. Rubber stamps on reverse. 100 shares issued to James H. Heroy Jr. Dated 9/30/71. New York: PPG Industries, Inc, 1971. unknown